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詳細(xì)摘要： 簡要描述： Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個(gè)測試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 高可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片，以提升...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-07-04 在線留言
詳細(xì)摘要： 簡要描述： 業(yè)測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態(tài)時(shí)間參數(shù)特性，測試范圍可達(dá)3500V 4000A
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詳細(xì)摘要： 簡要描述： TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測速（LDV）系統(tǒng)，包含 新型的PowerSight固態(tài)激光器，讓您耳目一新。該款全新增強(qiáng)型系...
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詳細(xì)摘要： 簡要描述： 使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性...
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詳細(xì)摘要： 簡要描述： 適用于界面化學(xué)、無機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。
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詳細(xì)摘要： 簡要描述：可瞬間測量量子效率（量子收率） 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系 采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷...
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詳細(xì)摘要： 簡要描述： Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個(gè)測試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 高可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片，以提升...
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詳細(xì)摘要： 簡要描述： IQxel? 聯(lián)機(jī)能力測試系統(tǒng)可提供涵蓋完整范圍的WLAN () 與藍(lán)牙() 設(shè)備的物理層測試。IQxel設(shè)備嚴(yán)格的帶寬要求與錯(cuò)誤向量幅度(EVM)...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-07-03 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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