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X射線鍍層測厚儀

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產品型號

品       牌

廠商性質經銷商

所  在  地北京市

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更新時間:2024-11-14 07:44:14瀏覽次數:78次

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所在地區:北京北京市

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產品簡介

X射線鍍層測厚儀貴金屬是制造首飾的基礎物質,同時也普遍應用在高技術產業中,如電子和醫藥領域。貴金屬的產品周期包括從礦石開采原材料、通過專門的復雜加工技術成型直到回收處理。

詳細介紹

X射線鍍層測厚儀 

STARK系列用于首飾及合金中的金屬元素分析、金屬鍍層厚度測量專為珠寶首飾行業定制的檢測儀器。

    貴金屬是制造首飾的基礎物質,同時也普遍應用在高技術產業中,如電子和醫藥領域。貴金屬的產品周期包括從礦石開采原材料、通過專門的復雜加工技術成型直到回收處理。

在制造時尚首飾時,人們往往采用便于加工的材料,如黃銅、鋅合金或鋼。根據視覺的要求,然后再用裝飾性的金屬涂層進行覆蓋。通常使用X射線熒光法可以快速、無損和準確的測量。

 

一、X射線鍍層測厚儀功能:

 

1、采用X射線熒光光譜法:無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T 16921-2005標準(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。

 

2、鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

 

3、可測量厚度范圍:Ti鈦—U鈾

 

4、鍍層層數:多至5層。

 

5、測量點尺寸:圓形測量點,直徑約0.2-0.8毫米。

 

6、測量時間:通常60秒-180秒。

 

7、樣品*大尺寸:330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

 

8、測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。

 

9、可測厚度范圍:通常0.01微米到30微米,視樣品組成和鍍層結構而定。

 

10、同時定量測量8個元素。

 

11、定性鑒定材料達20個元素。

 


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